В Томске разработали ИИ, который выявляет скрытые дефекты в электронике

В Томском государственном университете создали нейросеть, которая помогает находить брак в радиоэлектронной аппаратуре. Об этом сообщает ТАСС со ссылкой на пресс-службу вуза. Разработка ускоряет диагностику и уже показала результаты лучше зарубежных аналогов.

Владимир Сырямкин, заведующий лабораторией «Системы технического зрения», сказал, что современные электронные устройства состоят из множества деталей — плат, микросхем, разъемов, резисторов.

«Некоторые из них могут иметь скрытые дефекты. Мы обучили нейросеть анализировать снимки, используя 1500 эталонных изображений и 10 000 с дефектами», — заявил он.

При обучении использовали цифровые модели деталей, что повысило точность. Теперь нейросеть распознает разные форматы изображений и замечает мельчайшие повреждения.

Тесты показали, что российская технология по точности и надежности обходит аналоги из США, Китая и Тайваня.

Система уже применяется в промышленности и планируется к внедрению на предприятиях оборонного комплекса и Роскосмоса. Проект поддержал Российский научный фонд.

Напомним, что учёные из Тольятти и Самары разработали ИИ, чтобы продлить срок службы оборудования на нефтяных скважинах. Подробнее об этом читайте в материале «ЭкоПравды».